S32K3学习笔记-墨客博客

累计撰写 277 篇文章
累计创建 0 个标签
累计收到 0 条评论

目录CONTENT

以下是 S32K3学习笔记相关的文章

S32K3学习笔记21-S32K3之SAF及其应用 1 前言这一篇来讲一讲NXP针对S32K3的Safety特征安全软件框架SAF。这篇文章旨帮助使用SAF的用户更好更快的理解和上手SAF，更多的细节还是需要仔细参考SAF每个模块的UM手册。NXP官方提供了一个免费评估的版本，感兴趣的可以去下载一下。 2 SAF简介 SAF是什么呢？它是一
- 2024-08-05
- 58
- 0
- 0
- S32K3学习笔记
S32K3学习笔记20：S32K3之SCST及其应用 1 前言这篇文章来简单介绍一下NXP针对core test为S32K3设计的SCST（core self-test code）软件，并且将描述如何将SCST集成在自己的工程中并将其应用起来。 2 SCST简介 SCST的原理如下： SCST说白了就是针对S32K3的M7核的RTL模式，
- 2024-08-05
- 61
- 0
- 0
- S32K3学习笔记
S32K3学习笔记19-S32K3之如何集成SPD进自己的工程 1 前言前面已经将S32K3的与功能安全相关的硬件外设大致都梳理了一遍，前面在Safety简介中提到了NXP针对S32K3不同的安全机制共发布了免费的RTD和SPD，以及收费的SAF和SCST，如果恰逢你手头拮据，只能用免费的软件，而RTD和SPD又是两个独立的软件包，那么怎样将二者集成一下呢
- 2024-08-05
- 34
- 0
- 0
- S32K3学习笔记
S32K3学习笔记18-S32K3之Safety外设总结总结在前面已经对S32K3对功能安全这一块相关的外设大致都介绍了一遍，这篇文章就来对S32K3与Safety有关的外设来个小的总结。首先把贴出前面的图，如下：那么图中所有的安全机制都对应着K3的什么外设或者资源呢？ Redundant Hardware S32K344有锁步核机制，另
- 2024-08-05
- 32
- 0
- 0
- S32K3学习笔记
S32K3学习笔记17-S32K3之数据完整性的保障和手段 1 前言大家都知道，怎样保证数据在芯片内部传输不出错是非常重要且必要的环节，那么这一节就来稍微介绍一下S32K3在数据完整性上面做了哪些文章。 2 三个保障 S32K3中所有关于数据完整性错误都会在FCCU中体现出来，在数据完整性检查上面K3主要提供了三种方法为数据传输到存储的每个阶段保驾
- 2024-08-05
- 32
- 0
- 0
- S32K3学习笔记
S32K3学习笔记16-S32K3之PMC和MC_RGM 1 前言这一节来看看S32K3的PMC（Power Management Controller）和MC_RGM（Reset Generation Module）。其中PMC提供了电压检测机制，当电源输入电压高于或者低于正常工作电压，那么就会触发一个中断，如果电压再低，就触发复位。而MC_RGM
- 2024-08-05
- 35
- 0
- 0
- S32K3学习笔记
S32K3学习笔记15-S32K3之SEMA42和INTM 1 前言这一节来看看S32K3上面的两个小东西，有之锦上添花，那就是SEMA42（Semaphores2）和INTM（Interrupt Monitor）。这两者之间并没有什么关联，只是这两个小东西内容比较少，所以我给放到了一起。 2 SEMA42 2.1 简介 SEMA42是建立在XRD
- 2024-08-05
- 93
- 0
- 0
- S32K3学习笔记
S32K3学习笔记14-S32K3之REG_PORT,MPU和XRDC 1 前言这一节就来看看S32K3的资源访问保护器，S32K3在资源管理方面主要有三个玩意可以对其片上资源提供了强有力的保护，分别是REG_PORT（Register Protection），MPU（Memory Protection Unit）和XRDC（Extended Resource D
- 2024-08-05
- 15
- 0
- 0
- S32K3学习笔记
S32K3学习笔记13-S32K3之CMU 1 前言这一节来看看S32K3在时钟方面的安全监测，那就是CMU（Clock Monitor Unit）,这个模块就是专门来监测时钟的。 2 CMU介绍 S32K3总共有6个CMU通道，按照功能分为CMU_FC（Frequency Check）通道和CMU_FM（Frequency Met
- 2024-08-05
- 37
- 0
- 0
- S32K3学习笔记
S32K3学习笔记12-S32K3之STCU2 1 前言这一章来说说S32K3的STCU2（Self-Test Control Unit ），从名字就可以看出来，它是一个自测试控制模块，即BIST（Build-In Self-Test）控制器。BIST简单的来说就是一种芯片自我测试方式，谈到自我测试，无外乎就类似于那种给个输入然后对比输出的
- 2024-08-05
- 28
- 0
- 0
- S32K3学习笔记

1
2
3